用于芯片验证的输入控制方法与系统、电子设备及介质

本公开提供一种用于芯片验证的输入控制方法与系统、电子设备及存储介质。该验证方法包括：获取接口信号，其中，接口信号被配置为由驱动器产生；基于接口信号获取主通路激励和第一旁路激励；将主通路激励和第一旁路激励提供至待测设计，其中，第一旁路激励包括的信号与主通路激励包括的至少部分信号相同但时序不同。本公开通过处理接口上的数据来产生所需的与主通路激励对应的旁路激励，对基础的测试平台改动较小且维护成本低，可拓展性高。