一种基于三轴测量与MBD模型融合的叶片测量方法及系统

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一种基于三轴测量与MBD模型融合的叶片测量方法及系统
申请号:CN202510349264
申请日期:2025-03-24
公开号:CN120293067A
公开日期:2025-07-11
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于三轴测量与MBD模型融合的叶片测量方法及系统,方法包括:通过三轴测量仪对叶片进行初步测量并拟合为第一NURBS曲面,基于第一NURBS曲面获取叶片的实际法矢量,利用实际法矢量调整三轴测量仪的姿态;构建卷积神经网络,基于MBD模型对卷积神经网络进行训练,得到叶片曲面测点预测模型,利用叶片曲面测点预测模型对测量点进行规划;计算偏差综合指标,基于偏差综合指标调整三轴测量仪的测量速度和测量点间距,计算测量点之间的相似度,并基于相似度进行工艺参数反馈。本发明解决了现有叶片测量技术中测量精度低、效率不高、测量数据与MBD模型融合效果差以及批量测量困难的问题。
技术关键词
叶片测量方法 NURBS曲面 MBD模型 测量仪 测量点间距 构建卷积神经网络 姿态控制模块 二维灰度图像 偏差 OPCUA协议 边界特征 理论 指标 边缘检测算法 规划 滤波去噪 协方差矩阵
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