摘要
本发明涉及芯片级封装技术领域,具体为一种芯片级LED器件封装方法及系统,包括采集键合点表面形貌数据,提取关键参数,计算断裂韧性预测值,低于下限阈值时生成键合压力动态补偿量,超过上限阈值时生成键合角度复合修正量,基于修正量获取光强分布数据,生成透镜曲率动态修正量,计算封装体倾角调整比例并生成全局适配量。本发明通过采集键合点表面形貌数据并提取多种关键参数,提升断裂韧性预测准确性,动态调整键合压力强化界面稳定性,结合形貌反馈修正键合角度,缓解局部应力集中,基于光强分布变化实时修正透镜曲率,精准控制光斑中心偏移,结合封装体倾角与键合点密度映射关系同步修正倾角参数,有效提升封装光学一致性与结构完整性。
技术关键词
封装体
表面形貌数据
光电探测阵列
横向偏移量
轮廓曲率半径
光斑中心坐标
动态
压力
参数
代表
透镜
三维轮廓测量仪
芯片级封装技术
LED器件
光强分布变化
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