芯片测试方法及相关装置

本申请实施例提供一种芯片测试方法及相关装置，所述芯片测试方法应用于主机，包括：获取测试用例发出的激励的指令；将所述测试用例发出的激励的指令转换为预设格式的测试指令编码；所述预设格式为硬件加速仿真器可识别的数据格式；通过指令队列缓存机制，发送所述测试指令编码至硬件加速仿真器；所述指令队列缓存机制包括，将所述测试指令编码存储至预设文件内，当达到预设传输条件时将所述测试指令编码发送至硬件加速仿真器。可以单次大数据量的集中传输所述测试指令编码，多次传输所述测试指令编码，从而减少所述主机及硬件加速仿真器间数据传输次数，进而提高芯片测试速度，提高验证效率。