CPU卡芯片的测试方法、装置、设备及存储介质

本发明涉及CPU卡芯片技术领域，公开了一种CPU卡芯片的测试方法、装置、设备及存储介质，其中，该方法包括：对CPU卡芯片进行数据采集，得到初始测试数据矩阵；构建初始测试数据矩阵的测试参数关联图并预测缺失数据，得到完整测试数据矩阵；将完整测试数据矩阵进行主元分析，得到有效测试数据集；根据有效测试数据集构建多级模糊集，得到融合测试数据；将融合测试数据输入变分自编码器进行自监督预训练，并利用扩散状态空间模型执行条件插补，得到缺陷检测结果和不确定性估计值，该方法采用多级模糊集与自适应权重调整机制实现了电气特性和功能测试数据的最优融合，充分利用双通道数据的互补优势，提供了更全面准确的测试结果。