基于阵列式叉指电容的物料分布形态检测方法及装置

本申请涉及一种基于阵列式叉指电容的物料分布形态检测方法及装置，其中，方法包括：确定目标物料的面积覆盖率和至少一个叉指电容单元的电容变化量的电容映射关系系数；测量至少一个叉指电容单元上的各点位电容，确定物料放置在各点位电容处的影响系数矩阵；获取目标全阵列中各个行列坐标的电容矩阵，并根据电容矩阵和预设物料分布矩阵确定至少一个叉指电容单元上的物料覆盖率；检测物料的分布形态，处理物料覆盖率，以生成物料的连续物料分布图谱。由此，解决了相关技术中，单点测量仅能反映局部料位信息，无法捕捉物料表面的非均匀分布，物料介电常数的波动会显著影响电容值，导致测量误差，单点传感器难以实时跟踪复杂形态变化等问题。