基于射线技术的无损核桃分级检测方法

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基于射线技术的无损核桃分级检测方法
申请号:CN202510358843
申请日期:2025-03-25
公开号:CN120299031A
公开日期:2025-07-11
类型:发明专利
摘要
本发明涉及基于射线技术的无损核桃分级检测方法,本发明以核桃坚果为材料,首先对不同的带壳核桃进行CT成像,破壳后再人工分级标注后得到训练集,深度残差网络模型对核桃仁进行特征识别和分级,并输出分级检测结果,通过最小化分级检测结果与实际等级对深度残差网络模型进行训练,得到训练好之后的核桃分级检测模型;再利用训练好之后的核桃分级检测模型对带壳核桃仁进行CT成像,得到分级结果。本发明通过算法构建图像识别分类模型,引入混淆矩阵图和ROC曲线来印证模型在一定范围的可行性和准确性。本发明使用无损检测技术对带壳核桃分级,其优点是节约成本、省时便捷。
技术关键词
深度残差网络模型 分级检测方法 核桃 CT成像装置 图像识别分类 射线 无损检测技术 训练集 果实 曲线 样本 物体 矩阵 算法
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