一种用于测试芯片的测试系统和芯片测试方法

本申请的实施例公开了一种用于测试芯片的测试系统及芯片测试方法，涉及集成电路测试技术领域，为能够减小指定寄存器的校准值的误差而发明。所述系统，包括：负载板，所述负载板用于设置待测芯片；放大电路，所述放大电路的输入端用于与所述待测芯片的指定管脚相连；所述指定管脚的电压与所述待测芯片中的指定寄存器的校准值具有对应关系；测试机，所述测试机分别与所述负载板和所述放大电路的输出端相连，用于在所述待测芯片在正常工作模式下，测量所述放大电路的输出端输出的电压，得到第一测试电压，并根据所述第一测试电压，确定是否对所述指定寄存器的校准值进行调整。本申请适用于调整指定寄存器的校准值。