一种存储测试装置及其测试方法

本发明提供了一种存储测试装置及其测试方法，装置包括：控制模块；验证运行芯片，与控制模块和被测设备电性连接，验证运行芯片根据控制模块提供的配置信息，获取被测设备的测试数据；硬件监控模块，在被测设备的测试进程中，同步采集和校验被测设备的工作信号；分析单元，集成在硬件监控模块中或控制模块中，并抓取工作信号中的异常信号，在出现异常信号时，控制模块冻结芯片状态并锁定被测设备的现场数据，且控制模块解析现场数据和测试数据后，生成异常分析链路；故障定位单元，集成在控制模块中，根据异常分析链路，获取被测设备的异常位置；更新对硬件监控模块的配置信息，循环测试直到完成对被测设备的全场景全功能覆盖测试。