表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

本申请公开了一种表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，涉及图像处理技术领域。该方法包括：获取待检测图像，并利用至少两种预设检测算法对待检测图像进行显著性检测，得到对应的显著性图像；利用预设超像素分割算法对待检测图像进行超像素分割，得到多个超像素，并对各超像素进行特征提取，得到各超像素的图像特征；基于各显著性图像和各超像素的图像特征并利用预设差异度函数，确定各显著性图像的背景与显著性区域的差异度值；基于各显著性图像的差异度值确定缺陷检测结果。由此，以提高对表面缺陷检测的精度，解决不同图像难以准确适配到性能最优的显著性检测算法的问题。