一种基于能量色散X荧光光谱仪针对HVOF涂层的厚度检测方法

本发明公开了一种基于能量色散X荧光光谱仪针对HVOF涂层的厚度检测方法，先对渗层进行定性分析，然后对渗层进行定量分析，本发明可以直接应用到HVOF涂层的厚度检测，同时，该专利还可以适用于其他热喷涂工艺。本发明的渗层的算法同样具有适用性，包含传统的热侵锌等金属表面处理工艺，弥补了传统能量色散X荧光光谱仪的渗层中相同元素无法准确剥离计算的劣势。