一种芯片测试方法及电子设备

本公开提供了一种芯片测试方法，包括：随机生成多个测试向量；将每个粒子的坐标值输入到待测芯片，得到测试结果；根据测试结果，确定粒子群的功能覆盖率；在粒子群的功能覆盖率小于目标功能覆盖率的情况下，根据粒子群中每个粒子的适应度，确定粒子群中每个粒子的更新位置，并将更新位置作为每个粒子的坐标值。重复执行以上操作，直到粒子群的功能覆盖率大于等于目标功能覆盖率。