一种铜箔缺陷检测方法

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一种铜箔缺陷检测方法
申请号:CN202510379372
申请日期:2025-03-28
公开号:CN120318167A
公开日期:2025-07-15
类型:发明专利
摘要
本发明涉及图像处理与缺陷检测技术领域,公开了一种铜箔缺陷检测方法,包括以下步骤:S1、数据采集;S2、数据预处理;S3、利用多个深度学习模型提取图像特征,并通过注意力机制增强特征表示能力,融合后得到最终特征向量;S4、基于正常铜箔图像特征,使用主成分分析进行降维,构建正常特征库;S5、对待检测图像提取特征并降维,计算与正常特征库的相似度,与预设阈值比较以判定缺陷;S6、结果输出。通过结合MobileNetV3Large和EfficientNetB0模型进行特征提取,并引入注意力机制增强特征表示能力,显著提高了铜箔缺陷检测的精度,有效减少了漏检和误检现象。
技术关键词
缺陷检测方法 图像提取特征 深度学习模型 线阵相机采集 引入注意力机制 缺陷检测技术 成分分析 矩阵 多模型 图像特征向量 双线性插值 铜箔表面 图像缩放 数据 图像处理
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