基于双光梳光谱的单通道气体光谱测量系统及反演方法

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基于双光梳光谱的单通道气体光谱测量系统及反演方法
申请号:CN202510380573
申请日期:2025-03-28
公开号:CN120352360A
公开日期:2025-07-22
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于双光梳光谱的单通道气体光谱测量系统及反演方法,系统包括第一光学频率梳、第二光学频率梳、依次连接的第一耦合器、隔离器、光学带通滤波、光电探测器、电学低通滤波、AD采集卡、计算机,第一光学频率梳、第二光学频率梳的输出端分别连接第一耦合器的输入端;采用的系统结构和数字校正方法基于双光梳光谱技术和自由感应衰减原理,仅通过信号路采集的数据即可完成自由运转DCS干涉图的误差校正和气体吸收光谱的反演。解决了如何减少在自由运转对称式DCS系统中对参考路和信号路间设备一致性和数字误差校正基准一致性的高要求的问题,通过简化的系统结构和数字校正算法即可实现对多组分痕量气体的同步、实时、高精度测量。
技术关键词
双光梳光谱 光学带通滤波器 反演方法 光学频率梳 AD采集卡 光谱测量系统 光电探测器 气体吸收光谱 隔离器 低通滤波器 DCS系统 光纤锁模激光器 数字误差校正 光束 数字校正方法 校正算法 待测气体
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