一种两次曝光工艺制备方法

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一种两次曝光工艺制备方法
申请号:CN202510385445
申请日期:2025-03-29
公开号:CN120143558A
公开日期:2025-06-13
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种两次曝光工艺制备方法,该工艺制备方法包括以下步骤:S1:基片预处理:在基片表面涂覆光刻胶层并进行预烘,基片表面预置周期性校准标记阵列;S2:首次曝光:通过第一掩模版对光刻胶层进行第一次曝光;S3:动态对准补偿:将基片转移至二次曝光工位,通过多模态传感器实时采集基片形变数据和校准标记偏移量,结合初始坐标数据,利用动态补偿算法生成位移修正信号,补偿热漂移与机械振动引起的对准误差;S4:二次曝光;S5:显影与刻蚀;S6:后处理;本发明通过多模态传感器实时监测基片形变与偏移,结合卡尔曼滤波器与神经网络动态补偿算法,有效抑制热漂移、机械振动及环境扰动影响,使两次曝光图形叠加对准误差缩小。
技术关键词
多模态传感器 基片 对准误差 补偿算法 光刻胶层 显影液 多点温控装置 涂覆光刻胶 校准标记位置 亚波长光栅结构 卡尔曼滤波 模版 原子层沉积工艺 光学检测系统 精密位移台 真空吸附装置 干涉噪声 周期性
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