处理器芯片功耗测试方法和测试系统

本发明公开了处理器芯片功耗测试方法和测试系统，属于处理器芯片技术领域，所述方法包括：采集处理器芯片实时测试数据并进行处理，确定处理器芯片特征测试数据；训练处理器芯片功耗测试预测模型，对处理器芯片特征测试数据进行分析，预测处理器芯片功耗，确定处理器芯片功耗预测结果；以可视化形式展示处理器芯片功耗测试情况，并对处理器芯片进行管控，其中，利用动态调整系数，对设定动态功耗阈值进行调整。本发明解决了现有的不能全面评估处理器芯片的功耗特性，且不能对处理器芯片进行有效管控，导致处理器芯片功耗测试效果差的问题。本发明可全面评估处理器芯片的功耗特性，且能对处理器芯片进行有效管控，可提升处理器芯片功耗测试效果。