一种逻辑板电性能测试装置及测试方法

本发明公开了一种逻辑板电性能测试装置及测试方法，包括有以下步骤：将待测逻辑板与测试设备进行通信连接，并验证连接状态；在通信连接成功后，筛选出适配的测试场景，并为筛选出的测试场景分配优先级权重，接着加载目标测试参数集合；执行逻辑板的电性能测试，并实时采集测试数据；对采集的测试数据进行分析，生成测试报告。本发明具有以下优点和效果：通过动态化的测试场景选择与测试顺序优先级优化，来避免传统测试中静态、固定的测试流程，使测试过程更加灵活、精准和高效。