一种基于PoP封装结构的传输线去嵌方法和系统

本发明属于S参数测量领域，为一种基于PoP封装结构的传输线去嵌方法和系统；获取短路标准件、开路标准件和直通型标准件及PoP封装测试结构样件；对短路标准件、开路标准件和直通型标准件及PoP封装测试结构样件进行S参数测试，通过短路标准件和开路标准件的S参数，分别获取L参数和C参数；根据L参数和C参数建立PoP封装测试结构样件的初始等效电路模型；根据S参数对初始等效电路模型进行调节，得到最终的RLC值，进而得到同轴连接器结构的S参数。将同轴连接器结构的S参数结合ADS的去嵌模块，再级联PoP测试结构的S参数进行电路仿真，完成测试结构的去嵌，得到侧面互连传输线DUT的实际S参数；准确率高且能精确评估。