测试参数远程调测系统、方法和电子设备

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测试参数远程调测系统、方法和电子设备
申请号:CN202510397150
申请日期:2025-03-31
公开号:CN120178002A
公开日期:2025-06-20
类型:发明专利
摘要
本公开实施例公开了一种测试参数远程调测系统、方法和电子设备,方法包括:用户调测平台在接收到第一调测参数时,获取第一调测参数对应的目标预设调测协议,并基于目标预设调测协议对第一调测参数进行配置,得到第二调测参数,数据解析模块在接收到第二调测参数时,基于目标预设调测协议对第二调测参数进行解析,得到应用于芯片测试设备的第三调测参数,测试引擎模块基于第三调测参数对芯片测试设备中的目标被测器件的测试用数据进行更新。由此实现了通过用户的用户调测平台调试芯片测试设备中所使用的测试工程、板卡的各项参数,以及控制芯片测试设备运行测试工程的运行,降低用户熟悉芯片测试设备的成本和负担。
技术关键词
芯片测试设备 参数 协议 链接模块 调测系统 平台 调测方法 板卡 数据 电子设备 接口 存储计算机程序 动态 控制芯片 存储器 负担 处理器 标识
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