一种测试数据的处理方法、装置、终端设备及程序产品

本申请适用于测试技术领域，提供了一种测试数据的处理方法、装置、终端设备及程序产品，所述方法包括：获取半导体芯片在产品测试过程中的测试数据；对测试数据进行数据分析，得到分析后数据，其中，数据分析包括：唯一识别码查重分析、动态测试项分布分析和良率差值计算中的至少一项；对分析后数据进行分类标识，得到标识后的数据，标识后的数据用于供用户查看半导体芯片的测试情况。该方法通过对测试数据进行唯一识别码查重分析、动态测试项分布分析和良率差值计算中的至少一项，得到分析后数据，丰富了现有测试数据的处理手段，提高了数据处理结果的准确性，从而提升了半导体芯片的质量。