存储芯片的性能评估方法、装置及可读存储介质

本发明公开了存储芯片的性能评估方法、装置及可读存储介质。该方法包括根据不同频率模式分别对存储芯片进行功耗测试得到所述存储芯片在不同频率模式下的功耗性能数据；根据所述不同频率模式分别对所述存储芯片进行温度测试得到所述存储芯片在所述不同频率模式下的温度性能数据；根据相同频率模式下的所述功耗性能数据和所述温度性能数据分别确定所述存储芯片在所述相同频率模式下的性能评估参数；将所述性能评估参数与预设的目标评估参数进行比对得到所述存储芯片在所述相同频率模式下的性能评估结果。本发明能够准确评估存储芯片在不同应用场景中的综合性能表现。