一种通过cascode结构减少寄生RC的版图处理方法

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一种通过cascode结构减少寄生RC的版图处理方法
申请号:CN202510414782
申请日期:2025-04-03
公开号:CN119918494B
公开日期:2025-07-11
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种通过cascode结构减少寄生RC的版图处理方法,涉及集成电路设计技术领域。本发明通过cascode结构减少寄生RC,提升芯片高频模块性能,通过解析版图文件提取MOS管和金属线参数,利用寄生参数提取工具生成报告,并映射生成分布图标识高寄生区域,再依据分布图识别可优化的MOS管组合,设计cascode结构图,指导版图软件中MOS管的重新布局与布线,合并source端和drain端,优化连接路径,再进行版图验证和电路仿真,对比优化前后寄生参数和工作频率,生成仿真报告;可以精确量化寄生效应,优化版图减少寄生参数,有效提升模块工作频率,满足高性能芯片设计需求。
技术关键词
版图设计方案 寄生参数提取 图形元素信息 电路仿真 寄生电容值 金属线 布局 报告 布线 性能指标数据 多晶硅 高性能芯片设计 线段 集成电路设计技术 列表 电路优化设计 数据可视化工具 电阻值
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