摘要
一种大容量NAND闪存寿命预测方法及系统。该方法包括以下步骤:(1)计算存储系统当前读操作的频率,根据预设标准判断数据是否为热数据;(2)将热数据标记为待预测数据,记录其误码率,拟合出误码率随P/E循环次数pe和读操作次数rd变化的趋势,确定该P/E循环次数下的最大读操作次数;(3)根据预测的最大磨损次数和读操作次数阈值,并与当前数据的实际磨损情况对比,当接近或达到预设的安全极限时,向用户发出预警信号。该系统包括数据状态判断模块、误码预测模块以及寿命预警模块。本发明能够在短时间内以低于15%的误差率完成对3D NAND Flash剩余寿命的高精度预测,提高了预测速度。
技术关键词
NAND闪存
寿命预测方法
误码率
循环次数条件
寿命预测系统
多元线性回归方法
预警模块
存储系统
实时数据
直线
频率
标记
短时间
信号
芯片
参数
速度
系统为您推荐了相关专利信息
MOS器件
寿命预测方法
多时间尺度
数值求解算法
寿命预测系统
重构方法
变换电路
非暂态计算机可读存储介质
链路
电磁环境信号
NAND闪存
数据存储方法
系统运行状态
数据处理模型
模块
飞行姿态控制
误码率
分配加密密钥
极化分集技术
多普勒
轴承剩余寿命预测
嵌入特征
预测轴承剩余寿命
轴承健康
自动编码器