一种加速光刻热点检测的方法及装置

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一种加速光刻热点检测的方法及装置
申请号:CN202510423527
申请日期:2025-04-07
公开号:CN119919422B
公开日期:2025-07-29
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种加速光刻热点检测的方法及装置,包括:获取产品版图数据;对产品版图数据进行光刻工艺热点检查,定位热点,设定热点图形区域半径;将热点区域图形转换为特征向量并映射为图的节点,使用贪心算法实现基于图的动态热点库形成和更新;产品版图数据局部化与高风险热点版图区域筛选;光刻模拟仿真与光刻热点图形检测结果输出。本发明通过版图局部化的热点检测,可将光刻工艺热点仿真由全局转化为局部处理,大大降低光刻热点检查时间;改良的热点库热点匹配方法,包括热点图形尺寸选取方法、结合贪心算法的基于图的动态热点库建立算法,使得热点库图形更容易匹配且加快训练速度。
技术关键词
光刻热点检测 版图 光刻工艺热点 列表 贪心算法 邻居 高风险 尺寸 数据 动态 处理器 节点数 可读存储介质 存储器 多边形
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