一种基于计算机的半导体芯片耐磨试验机

本发明公开了一种基于计算机的半导体芯片耐磨试验机，涉及到芯片划痕检测技术领域，包括机箱底座和驱动马达，且驱动马达安装在机箱底座的内部，所述机箱底座的上端设置有划痕驱动机，所述划痕驱动机构的上端设置有两个用于夹持半导体芯片并对其表面进行升温处理的安装机构，所述机箱底座的上端一侧设置有对安装机构内部夹持的半导体芯片进行涂层测试的探针检测机构。本发明通过向芯片表面喷射热气流，快速改变并稳定芯片表面温度，芯片高温下材料可能软化，导致更容易磨损，通过不同温度下的测试数据，可筛选出在极端温度下仍能保持稳定性能的材料，通过电磁方式控制芯片的微小振动如高频低幅振动，测试涂层或封装的抗振能力。