一种芯片侧面划痕检测方法、系统、产品及介质

本申请提供了一种芯片侧面划痕检测方法、系统、产品及介质，涉及图像设备技术领域。利用感兴趣区域指引模型从原始芯片图像中提取涂抹标记对应的划痕区域，降低了人工标注的难度。相关人员只需对划痕区域进行简单的涂抹标记即可。这种简化的标注方式提高了标注效率，使得工作人员能够在相同时间内完成更多样本的标注工作，从而获取充足的训练数据，为模型训练提供了充足的数据支持，使模型的准确率上升。