X光机的灵敏度自校正方法、系统、设备及介质

本发明提供一种X光机的灵敏度自校正方法、系统、设备及介质，应用于X光机，所述方法包括：采集X光机传送带上待检测产品的产品图像，并将标准异物测试卡图像插入所述产品图像进行图像融合生成叠加图像；将所述叠加图像输入至预先构建的自适应学习模型，获得所述叠加图像对应的灵敏度检测值，并将所述灵敏度检测值与所述标准异物测试卡图像的标准灵敏度值进行对比；在所述灵敏度检测值与所述标准灵敏度值不一致的情况下，根据所述灵敏度检测值与所述标准灵敏度值之间的差值，调整所述自适应学习模型的模型参数，直至所述灵敏度检测值与所述标准灵敏度值一致；从而实现X光机的灵敏度自校正，提高了X光机运行过程中的灵敏度检测效率和准确性。