栅格阵列封装下存储芯片性能智能评估方法及系统

本发明涉及存储芯片技术领域，揭露了一种栅格阵列封装下存储芯片性能智能评估方法及系统，包括：通过性能分析样本确定存储芯片上的性能监测点；识别不稳定数据的数据概率分布，利用数据概率分布对不稳定数据进行数据平滑处理；查询性能分析指标对应的当前场景；分析当前场景与对照场景之间的场景相似性，计算对照场景对对照分析指标的对照需求度，计算当前场景对性能分析指标的当前需求度；利用对照需求度从对照分析指标中识别对照芯片的对照指标，从性能分析指标中识别存储芯片的当前指标，分析对照指标对应的对照性能；计算当前性能相对于对照性能的性能提升比。本发明可以基于不稳定的测试数据来评估新芯片相对于旧芯片的性能高低。