摘要
本发明涉及芯片测试领域,具体涉及一种基于FPGA的数字波束合成芯片陪测逻辑系统。包括:通信模块、命令获取模块、命令解析模块、Serdes模块、读、写缓存;当命令解析模块解析到写命令时,则将命令获取模块后续收到的待写入数据写入写缓存,再控制Serdes模块从写缓存中读出数据并通过发送端口发送至波束合成芯片;Serdes模块的接收端将波束合成芯片发送的效内容存入读缓存;当命令解析模块解析到读命令时,则将读缓存中的内容发送至上位机,直至读缓存中的内容读空。本发明的陪测逻辑通过一片FPGA就可以完成对芯片的主要数据通道测试,且该逻辑可扩展性强大,可以应对多种测试环境和结构。
技术关键词
命令
波束
通信模块
芯片
回环功能
数据
通信接口
接收端
端口
逻辑
通道
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