一种芯片冷热冲击测试装置及其测试方法

本发明公开了一种芯片冷热冲击测试装置及其测试方法，涉及芯片性能检测技术领域，解决了现有技术中因芯片被夹具部分覆盖，导致芯片无法全面均匀地进行冷热冲击，以及对芯片进行批量测试时各个芯片处的温度不易保持一致，从而影响测试效果的技术问题；包括用于提供冷热温度的测试筒，测试筒内设置有移动件，移动件上设有用于对芯片本体进行动态夹持的夹紧机构；夹紧机构包括安装座、第一夹持机构、第二夹持机构和联动机构，多个安装座均匀分布在移动件上。本发明不仅方便对芯片进行动态夹持，使得芯片能够全面均匀地进行冷热冲击测试，而且使得芯片在进行批量测试时各个芯片处的温度不会出现较大温差，从而有利于提高测试效果。