高电子迁移率晶体管芯片及其制备方法

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高电子迁移率晶体管芯片及其制备方法
申请号:CN202510445181
申请日期:2025-04-10
公开号:CN120321982A
公开日期:2025-07-15
类型:发明专利
摘要
本公开公开了一种高电子迁移率晶体管芯片及其制备方法,属于半导体技术领域。高电子迁移率晶体管芯片包括衬底,以及依次叠设在衬底一面的沟道层、再生长层、势垒层和盖帽层;再生长层包括沿外延生长方向叠设的AlGaN界面层和AlGaN主体层,AlGaN界面层的Al组分为10%~15%,AlGaN主体层的Al组分为20%~30%。本公开实施例能够有效的解决晶格失配的问题。
技术关键词
电子迁移率晶体管 等离子体预处理 界面 衬底 盖帽层 外延 芯片 势垒层 刻蚀深度 原位 压力 射频 气氛 功率
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