胶点厚度检测方法、控制器、光源装置及存储介质

本申请公开胶点厚度检测方法、控制器、光源装置及存储介质，应用于光源装置，光源装置包括光源发射器、光纤耦合器、第一透镜组件、第二透镜组件和全反射镜；方法包括：控制光源发射器发射目标光源，以使目标光源经过光纤耦合器分射至第一透镜组件和第二透镜组件，得到参考光以及信号光；设置多个参考点以将第一透镜组件移动至参考点，并在每个参考点处接收光纤耦合器发送的干涉信号，其中，干涉信号通过光纤耦合器对经过全反射镜反射的参考光以及经过待测胶点反射的信号光进行汇合得到；确定所有干涉信号的相位延迟，根据所有相位延迟确定待测胶点的胶点厚度。本申请实施例能够提高胶点厚度检测的准确性，进一步提高胶点厚度的检测效率。