一种基于FPGA的芯片测试平台和系统

本申请涉及一种基于FPGA的芯片测试平台和系统，其中测试平台的特征在于，包括：第一指令执行模块，配置为对来自于上位机的第一指令进行解码；第二指令执行模块，配置为读取第二指令并进行解析，其中所述第二指令的类型对应于芯片测试过程中的不同操作。本申请提出的基于FPGA的芯片测试平台能够实现将第二指令预先缓存在FPGA中，并将原先在上位机中进行的部分操作转移至FPGA中进行，FPGA的时钟频率较快，且不存在总线传输等不必要的结构，因此减少了测试过程中的延时。