一种基于微控制单元的单线制硬件调试方法

本发明公开了一种基于微控制单元的单线制硬件调试方法，属于芯片调试技术领域；包括步骤S1，微控制单元的调试子单元于调试器的作用下复位至初始状态；步骤S2，调试器以第一设定波特率与调试子单元进行调试握手；步骤S3，调试器通过微控制单元的调试管脚与微控制单元进行调试处理。上述技术方案的有益效果是：利用微控制单元的一个调试管脚实现调试器与调试目标之间的单线调试，减少调试期间对管脚资源的占用，降低硬件设计的复杂性与调试成本。