一种预测分子晶体辐照化学损伤程度的方法

本发明公开了一种预测分子晶体辐照化学损伤程度的方法，通过数据准备，并构建训练数据集，其中离位原子数和分子分解数量作为待预测的目标变量，对数据进行预处理，预处理后通过XGBoost构建分子晶体辐照化学损伤的预测模型，根据XGBoost计算每个特征对模型预测的贡献度，并使用SHAP方法对每个特征的贡献进行计算特征交互效应，得到辐照敏感分子基团数据。本发明的有益效果：突破传统经验模型单一能量标度的限制，通过跨尺度特征融合与模型可解释性分析，可揭示分子基团、键离解能等关键损伤敏感因子，该技术推动辐照损伤预测从经验公式向智能计算范式转型，为空间电子器件寿命评估、核反应堆材料设计、含能分子结构优化等需求提供跨学科解决方案。