基于多粒度动态插桩的固件托管方法、装置及设备

本申请适用于嵌入式分析技术领域，尤其涉及基于多粒度动态插桩的固件托管方法、装置及设备，该方法包括：通过获取外设信息和待测芯片的固件类型信息，满足不同应用场景下对芯片分析的信息需提升测试的可扩展性；根据外设信息和待测芯片的固件类型信息对待测芯片进行仿真，确定粒度动态插桩方式，实现针对性地确定粒度动态插桩方式，降低了因插桩不当造成的资源浪费，有效控制了测试成本；基于粒度动态插桩方式对待测芯片进行插桩探测，得到待测芯片对应的探测信息，准确深入分析芯片运行状况；根据待测芯片对应的探测信息，生成待测芯片对应的插桩日志分析报告，提升了测试分析的准确性。