一种Micro-LED芯片自动连续检测装置

本发明属于电性能测试技术领域，具体的说是一种Micro‑LED芯片自动连续检测装置，包括ATE机体；所述ATE机体上固接有输送轨道，且输送轨道为双通道设置；所述ATE机体的外壁固接有支撑架；通过ATE机体上设置的输送轨道和连接测试组件实现了对Micro‑LED芯片的自动连续交替式电性能测试，替代了传统的检测方式，缩短了大规模生产的测试时间，提高芯片生产的效率，通过ATE机体上的伺服电机驱动输送轨道上的推送板，交替式推送芯片至连接测试组件进行电性能测试，再通过液压缸控制的封堵板交替封路确保芯片精准对接测试插头，测试完成后，由二号皮带带动的拉拽机构将芯片座钩拽至下料槽处滑入收集盒，收集盒内的滑动板在芯片堆叠时随重力下降，降低芯片受损的风险。