具有压电分流阻尼功能的芯片批量测试插座

本发明揭示了一种具有压电分流阻尼功能的芯片批量测试插座，包括基座，基座上开设有升降槽和容置槽，升降槽和容置槽的下方设有仅可上下移动的连接架，连接架上固设有与升降槽和容置槽相适配的抵触块和放置板，抵触块和放置板可延伸置于其外部；容置槽的外侧设有固设在基座上的第二定位板，升降槽的外侧设有可面向第二定位板移动的第一定位板，第一定位板的运动轨迹仅为水平直线运动轨迹，第一定位板和第二定位板上还均设有用以对芯片进行测试的测试元件。本发明的有益效果主要体现在：设计精巧，该插座通过第一定位板和第二定位板相互配合将芯片位置固定，实现自动定位，提高设备的自动化程度，该操作简单便捷，布局紧凑，实现了高度集成。