一种准确测量非线性绝缘介质介电常数的方法

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一种准确测量非线性绝缘介质介电常数的方法
申请号:CN202510499279
申请日期:2025-04-21
公开号:CN120405237A
公开日期:2025-08-01
类型:发明专利
摘要
一种准确测量非线性绝缘介质介电常数的方法,涉及电气绝缘测试技术领域。为解决现有技术中存在的,现有技术中尚缺乏一种能够有效消除厚度影响、准确获取非线性绝缘介质真实介电常数的测量方法的技术缺陷,本发明提供的技术方案包括:构建等效电路模型;采集不同厚度试样的介电常数测量值,使用宽频介电谱仪在多个频率点对不同厚度试样进行相对介电常数测试,得到介电常数随厚度变化的数据;判断介电常数是否具有厚度依赖性;若具有厚度依赖性,则将介电常数测量值代入等效电路模型中进行非线性拟合,提取材料的真实介电常数值;输出真实介电常数。可应用于非线性绝缘材料的介电性能精确测量与绝缘结构设计分析工作中。
技术关键词
等效电路模型 介电常数测试 斯皮尔曼等级相关系数 电气绝缘测试技术 非线性最小二乘法 计算机储存介质 宽频 介电常数值 电容 频率 计算机程序产品 低频段 测量方法 扩散层 模块 绝缘材料
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