基于芯片测试数据的分析优化方法及系统

本发明涉及芯片测试分析技术领域，具体为基于芯片测试数据的分析优化方法及系统，包括以下步骤：基于芯片测试数据和探针接触信息，进行电压采集和电流采集，结合图神经网络执行节点关系运算并提取邻接关系，筛选异常波形和噪声波形并关联晶圆图谱位置，生成通道波形映射。本发明通过整合电压与电流数据及探针接触信息，采用图神经网络深入探索节点间关系，有效提取邻接关系，筛选并关联异常波形至晶圆图谱位置，提高了波形数据的分析能力。此策略通过动态地对比波形差值和统计波形幅度，并利用深度强化学习技术优化测试步骤，有效提升了测试流程的效率，减少了冗余操作。