基于K-Means聚类与模拟退火的晶圆级芯片负载均衡优化方法及系统

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基于K-Means聚类与模拟退火的晶圆级芯片负载均衡优化方法及系统
申请号:CN202510510079
申请日期:2025-04-23
公开号:CN120030977B
公开日期:2025-06-20
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片的电子设计自动化技术领域,特别涉及一种基于K‑Means聚类与模拟退火的晶圆级芯片负载均衡优化方法及系统,构建整个拓扑的边权重矩阵;利用关键路径算法计算任意两个节点之间的关键路径权重;根据晶圆级芯片核组的物理布局,生成对应的二维坐标网格;采用K‑Means++策略选择节点的初始聚类中心,并将节点划分到对应的簇中;将簇映射到晶圆级芯片的核组上,优先将通信代价高的簇映射到相邻的物理位置;通过模拟退火算法优化簇的映射方案,优化目标是最小化系统整体并行运行时间;更新聚类中心并重复迭代,直至聚类中心稳定,输出最优映射方案。本发明将AI大模型的网络拓扑图均衡地映射到各个核组上,实现更高效的负载均衡。
技术关键词
负载均衡优化方法 模拟退火算法 芯片 初始聚类中心 节点 最小化系统 中心稳定 电子设计自动化技术 网格 网络拓扑 坐标 权重策略 物理 矩阵 输出模块
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