提高测试覆盖率的测试电路及工作方法

提高测试覆盖率的测试电路及工作方法，能够在对芯片做DFT时，保证高频时钟域逻辑at‑speed fault和stuck‑at fault都能测试的情况下，使得低频逻辑电路不做at‑speed测试时能够测试stuck‑at fault，从而提高整个芯片stuck‑at测试的覆盖率。当芯片进入at‑speed测试模式，由扫描使能scan_enable来控制第二时钟门控电路，在scan_enable拉高后，通过第三寄存器对scan_enable进行打拍处理，第二时钟门控电路输出时钟晚输出一个周期，通过第三与门使得scan_enable拉低时关停时钟输出。