基于生成对抗模仿学习的BSIM-CMG参数提取方法、装置、设备、存储介质及计算机程序产品

本发明属于半导体模型技术领域，公开了一种基于生成对抗模仿学习的BSIM‑CMG参数提取方法、装置、设备、存储介质及计算机程序产品，通过引入生成对抗网络GAN和模仿学习机制，能够在少量数据支持下实现高效、准确的参数提取，同时显著增强模型的物理可解释性和泛化能力，不仅能够自动化地提取大量参数，还能有效降低对人工经验和计算资源的依赖，从而显著提升参数提取的效率和精度，为复杂集成电路设计中的电路仿真提供更可靠的技术支持。