调制度测量轮廓术的方法、系统、设备及存储介质

本发明公开了调制度测量轮廓术的方法、系统、设备及存储介质，所述方法包括：投影仪a和相机构成三角测量系统，并完成三角测量系统标定；计算任意标定面各个像素点调制度最大值分布，获得调制度最大值对应序列号；获得垂直测量系统中任意标定面，并计算标定面在三角测量系统中各个像素点的空间坐标值；将标定面在三角测量系统中各个像素点的空间坐标值分别与调制度最大值对应序列号完成二次拟合插值，获得标定面各像素点的空间坐标值与调制度最大值对应序列号之间的映射关系；重建被测物体三维面形。本发明保留除原有调制度测量轮廓术所具有的垂直测量优点外，还能提供被测物体三维面形的物理坐标值，在三维测量技术方面具有良好的应用前景。