芯片状态预测方法、设备及存储介质

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芯片状态预测方法、设备及存储介质
申请号:CN202510517962
申请日期:2025-04-23
公开号:CN120631677A
公开日期:2025-09-12
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种芯片状态预测方法、设备及存储介质,该方法包括:获取预设历史时间段内被调用的功能函数得到历史调用函数,统计历史调用函数的运行特征参数,并获取在执行历史调用函数的过程中的芯片状态参数;对每个历史调用函数对应的运行特征参数和芯片状态参数进行回归分析,计算运行特征参数与芯片状态参数之间的映射关系参数;获取待预测芯片中对应被调用的功能函数得到当前调用函数,统计当前调用函数的运行特征参数;基于映射关系参数对当前调用函数的运行特征参数进行映射,得到待预测芯片的芯片状态参数,可以对芯片状态进行快速预测,且芯片状态预测的精度更高,提高了对芯片状态的感知能力。
技术关键词
芯片 状态预测方法 参数 样本 皮尔逊相关系数 数据 时间段 可读存储介质 电子设备 计算机 处理器 程序 指令 存储器 资源 功耗 频率 精度
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