基于约束差分进化算法的2.5D集成电路测试调度优化方法

基于约束差分进化算法的2.5D集成电路测试调度优化方法，属于集成电路测试优化领域，本发明为解决现有测试调度方法求解复杂、精度低、速度慢的问题。本发明方法包括：步骤一、建立功耗约束下的2.5D集成电路测试调度模型；步骤二、获取2.5D集成电路测试调度相关参数，设计离散编解码策略并设置约束差分进化算法的初始化参数；步骤三、使用改进约束差分进化算法对初始种群进行迭代进化生成新解；步骤四、更新种群和控制参数；步骤五、判断停止条件，输出最优解。