内存加载过程的故障分析方法、装置、设备及存储介质

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内存加载过程的故障分析方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202510539164
申请日期:2025-04-27
公开号:CN120336067A
公开日期:2025-07-18
类型:发明专利
摘要
本发明涉及内存故障诊断技术领域,尤其涉及内存加载过程的故障分析方法、装置、设备及存储介质,本申请通过对目标内存区域执行擦除操作并实时监控擦除结果,同时记录内存状态数据,出现当擦除失败时,提取预设时间段内异常区块及其参照区块的状态数据,通过数据比对生成故障特征数据,结合硬件环境、软件配置以及存储状态进行多维度分析,确定故障根源并执行针对性恢复操作,包括自适应重试擦除、坏块重映射或延迟擦除调度。该方法通过多维度数据监测与分析,精准识别擦除故障原因,有效减少误判和无效操作,结合差异化擦除策略与智能恢复机制,能够自适应环境干扰并自动纠错,提高了系统的自动化管理能力。
技术关键词
故障分析方法 故障原因分析 故障分析设备 故障分析装置 数据项 校验信息 算法 数据处理模块 通信状态信息 故障特征提取 故障诊断技术 内存控制器 数据采集模块 软件 处理器 分析模块 电压
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