摘要
本申请公开一种温度传感器的校准方法、系统、电子设备、存储介质及程序产品,属于芯片测试技术领域。其中,该方法包括:控制待测芯片上电,在预设的第一运行时间内,获取设置于该待测芯片内的第一温度传感器的第一温度测量值;获取该待测芯片在第一功耗下的第一运行时间内的第一自热温升值,其中,该第一功耗为上述待测芯片在上述第一运行时间内的功耗,该第一自热温升值用于指示上述待测芯片自身产生的热量所引起的温度偏差;根据上述第一自热温升值以及上述待测芯片的环境温度,得到第一温度传感器的校准参考温度;通过该校准参考温度和上述第一温度测量值,对上述第一温度传感器进行校准。
技术关键词
待测芯片
FT测试设备
恒温设备
功耗
温度校准
测试板
校准方法
校准温度传感器
计算机程序产品
可读存储介质
电路
芯片测试技术
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