芯片测试方法及系统

本发明公开一种芯片测试方法及系统，包括：S100、建立测试主机与待测芯片之间的USB连接通道和指令控制通道；S200、测试主机通过USB连接通道为待测芯片供电并识别待测芯片；S300、测试主机通过USB连接通道枚举待测芯片的hgic设备名，成功则进入步骤S410，否则进入步骤S420；S410、测试主机通过USB连接通道向待测芯片发送测试固件并进入步骤S500；S420、测试主机通过所述指令控制通道控制待测芯片进入USB启动模式并返回步骤S300；S500、通过所述测试固件对待测芯片进行测试。本发明不管芯片处于空片还是有应用固件的情况都能正常测试其性能，大大提高了测试效率；而且支持多种USB启动模式，适用于各种芯片状态，提高芯片测试的灵活性和兼容性。