一种基于ARM和FPGA双核架构的振动加速度测试系统

AITNT
正文
推荐专利
一种基于ARM和FPGA双核架构的振动加速度测试系统
申请号:CN202510550928
申请日期:2025-04-29
公开号:CN120907657A
公开日期:2025-11-07
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种基于ARM和FPGA双核架构的振动加速度测试系统,包括加速度传感器、信号调理模块、模数转换模块、FPGA控制核心、ARM控制核心、电源管理模块、时钟管理模块、SDRAM存储单元和通信接口,本发明采用ARM和FPGA双核架构的协同控制方式,充分发挥了ARM在实时逻辑控制和FPGA在并行信号处理等方面的优势,实现了16位分辨率、200kHz采样率和8通道振动加速度信号的同步采样,FIR滤波器采用分时复用机制对各通道采样信号进行滤波处理,有效减少了硬件资源的占用,提高了测试数据的信噪比。在满足逻辑控制、信号采集和数据处理等功能需求的同时,也兼顾了低成本、便携性和可扩展性等设计要素。
技术关键词
加速度测试系统 双核架构 信号调理模块 模数转换模块 芯片 时钟管理模块 核心 电阻 电源管理模块 存储单元 OTG接口 传感器 并联电容 电位器 FIR数字滤波器 通信接口 协同控制方式 并行信号处理
系统为您推荐了相关专利信息
1
一种芯片电源时序控制电路
三端稳压芯片 电源时序控制电路 三极管 电容 电阻
2
一种生物样本的空间多组学检测方法
学检测方法 生物芯片 样本 蛋白 辣根过氧化酶
3
一种用于检测肉毒毒素C的单克隆抗体及其应用
单克隆抗体 检测肉毒毒素 序列 核苷酸 基因
4
芯片分选方法及半导体加工设备
芯片分选方法 分区 工位 半导体 控制机械手
5
基因测序芯片反应井在图像中的定位方法
基因测序芯片 定位方法 坐标 索引 荧光
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号